介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀

更新時間：2024-01-12

簡要描述：介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用LJD-A/B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

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??一、概述：

LJD-A高頻 介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀 系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、LJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入LJD-A/B或LJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀 器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用LJD-A/B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

二、主機(jī)及夾具參數(shù)：??

序號	項目	參數(shù)
1	型號	LJD-A/LJD-B/LJD-C
2	信號源	DDS數(shù)字合成信號
3	頻率范圍	10KHZ-110MHZ
4	信號源頻率覆蓋比	11000:1
5	采樣精度	11BIT
6	信號源頻率精度	3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
7	Q值測量范圍	1～1000自動/手動量程
8	Q值量程分檔	30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔
9	Q分辨率	4位有效數(shù)，分辨率0.1
10	Q測量工作誤差	＜5%
11	電感測量范圍	1nH～8.4H,；分辨率0.1
12	電感測量誤差	＜3%
13	電容直接測量范圍	1pF～2.5uF
14	調(diào)諧電容誤差分辨率	±1pF或＜1%
15	主電容調(diào)節(jié)范圍	30～540pF
16	諧振點搜索	自動掃描
17	自身殘余電感扣除功能	有
18	大電容值直接顯示功能	有
19	介質(zhì)損耗系數(shù)精度	萬分之一
20	介電常數(shù)精度	千分之一
21	LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,LT,CT,波段等
22	準(zhǔn)確度	150pF以下±1pF；150pF以上±1%
23	Q合格預(yù)置范圍	5～1000聲光提示
24	環(huán)境溫度	0℃～+40℃
25	消耗功率	約25W
26	電源	220V±22V，50Hz±2.5Hz
27	極片尺寸	38mm/50mm(二選一)
28	極片間距可調(diào)范圍	≥15mm
29	材料測試厚度	0.1-10mm
30	夾具插頭間距	25mm±0.01mm
31	夾具損耗正切值	≤4×10－4 （1MHz）
32	測微桿分辨率	0.001mm
33	測試極片	材料測量直徑Φ38/50mm，厚度可調(diào) ≥ 15mm

??三、常測材料及符合標(biāo)準(zhǔn)：

固體絕緣材料,絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等。

ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法；

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法；

四、標(biāo)準(zhǔn)配置??：

序號	配置	數(shù)量/單位
1	主機(jī)	一臺
2	夾具	一套
3	電感組	九只
4	電源線	一根
5	選配	液體杯

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